Análisis de los efectos de la radiación en algunas propiedades de sensores de GaAs:Cr y Si expuestos a un haz de electrones de 22 MeV.
Contenido principal del artículo
Resumen
Actualmente, los experimentos relacionados con la física de altas energías y otros campos, demandan el uso de detectores con mayor resistencia a las radiaciones y el novedoso material GaAs:Cr ha demostrado poseer una excelente fortaleza comparado con otros semiconductores. En base a las evidencias obtenidas en el experimento del IUIN con el uso de un haz de electrones de 22 MeV generado por el acelerador LINAC-800, se presenta un análisis de los efectos de la radiación en detectores de Si y GaAs:Cr. Las características I-V medidas mostraron un incremento de la corriente de fuga con la dosis y una asimetría entre las dos ramas de estos comportamientos para todos los detectores. Analizando las mediciones de los espectros MIP y la dependencia de la CCE con la dosis, fue encontrado un proceso de deterioro de la capacidad de detección de los detectores con el aumento de la dosis, sin embargo, los comportamientos son diferentes de acuerdo al tipo de detector. La explicación detallada de estos efectos desde el punto de vista microscópico aparece en el texto, los cuales están relacionados generalmente con la generación de desplazamientos atómicos, vacancias y otros defectos producto de la radiación, modificando la estructura de los niveles energéticos en el material sensor. Estos cambios afectan el tiempo de vida y la concentración de los portadores de carga, así como otras características del material.
Detalles del artículo
Cómo citar
Torres, A. G., Leyva, A., Zhemchugov, A., Kruchonak, U., Abou El-Azm, S., & Ramos, D. (2019). Análisis de los efectos de la radiación en algunas propiedades de sensores de GaAs:Cr y Si expuestos a un haz de electrones de 22 MeV. Nucleus, (64). Recuperado a partir de http://nucleus.cubaenergia.cu/index.php/nucleus/article/view/652
Sección
Ciencias Nucleares
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